- 氧氮?dú)涮剂虻仍胤治鰞x
- 光譜儀,光度計(jì),光譜分析儀
- 金相顯微制樣檢驗(yàn)分析儀
- 試驗(yàn)機(jī),硬度計(jì)
- 工業(yè)顯微鏡及光學(xué)測(cè)量裝置
- 三坐標(biāo),影像儀等形貌測(cè)量?jī)x
- 熱分析儀,量熱儀
- 質(zhì)譜儀及各類聯(lián)用儀
- 行業(yè)檢測(cè)儀器
- 制樣及前處理設(shè)備
- 配件耗材及配套產(chǎn)品
產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
蔡司掃描電鏡有不同型號(hào)配置能夠提供高分辨率的表面信息及材料對(duì)比度。它們被廣泛運(yùn)用于電鏡科學(xué)及應(yīng)用領(lǐng)域，如納米技術(shù)、材料分析、半導(dǎo)體失效分析、質(zhì)量控制。蔡司掃描電子顯微鏡EVO系列SEM可根據(jù)用戶需求提供EVO10\EVO15\EVO25不同選型方案。
詳情介紹：
EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗(yàn)結(jié)合在一起， 同時(shí)能夠吸引經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學(xué)， 材料科學(xué)， 或例行的工業(yè)質(zhì)量力求和失效分析領(lǐng)域，憑借廣泛的可選配置， EVO 都可以根據(jù)您的要求量身定制。
顯微鏡中心或工業(yè)質(zhì)量力求實(shí)驗(yàn)室的多功能解決方案
不同的真空室大小和可滿足所有應(yīng)用要求的載物臺(tái)選項(xiàng)-甚至是大型工業(yè)零部件樣品
使用LaB6燈絲，能夠得到更優(yōu)的圖像質(zhì)量
對(duì)不導(dǎo)電和無導(dǎo)電涂層的樣品的成像和分析性能出色
可以配置多種分析探測(cè)器用于滿足各種顯微分析應(yīng)用的需求
蔡司掃描電子顯微鏡EVO系列SEM特點(diǎn)：
?便捷的可用性
SmartSEM Touch可以通過使用您的指尖與其進(jìn)行交互式工作流程控制。它簡(jiǎn)單易學(xué)， 大大減少了培訓(xùn)所付出的努力和成本，甚至新用戶在幾分鐘內(nèi)也能夠捕捉令人驚嘆的圖像。此用戶界面還支持需要自動(dòng)化工作流程以執(zhí)行可重復(fù)檢查任務(wù)的工業(yè)操作員。
?優(yōu)的圖像質(zhì)量
EVO 擅長(zhǎng)于對(duì)未經(jīng)處理和沒有導(dǎo)電涂層的樣品獲取的數(shù)據(jù)。EVO 還允許樣品保留其原始狀態(tài)， 維持含水和重污染樣品的數(shù)據(jù)質(zhì)量。此外當(dāng)成像和微量分析面臨挑戰(zhàn)時(shí)，選用LaB6燈絲則能夠給予更好的分辨率、 對(duì)比度和信噪比。
?EVO 能夠與其它設(shè)備相關(guān)聯(lián)
EVO可以作為半自動(dòng)、多模式工作流程的一部分，通過重新定位感興趣區(qū)域，并以多種方式收集數(shù)據(jù)，形成信息的完整性。將光學(xué)和電子顯微鏡圖像合并起來進(jìn)行材料表征或零件檢驗(yàn)，或者將 EVO 與蔡司光學(xué)顯微鏡相關(guān)聯(lián)，進(jìn)行關(guān)聯(lián)顆粒度分析。
蔡司掃描電子顯微鏡EVO系列SEM應(yīng)用示例：
?電子行業(yè)：
?目視檢查電子元件、集成電路、MEMS 器件和太陽能電池
?銅絲表面及晶體結(jié)構(gòu)的研究
?金屬腐蝕研究
?斷面失效分析
?Wire bonding線腳檢查
?電容表面成像
?金屬行業(yè)：
?對(duì)金屬樣品和夾雜物的結(jié)構(gòu)、化學(xué)和結(jié)晶學(xué)進(jìn)行成像和分析
?相、顆粒、焊縫和失效分析
?加工企業(yè)：
?質(zhì)量分析/質(zhì)量控制
?失效分析/金相分析
?清潔度檢查
?顆粒的形態(tài)和化學(xué)分析， 以滿足 ISO 16232 和 VDA 19 中1和2的標(biāo)準(zhǔn)
?非金屬夾雜物的分析
?原材料：
?地質(zhì)樣品的形態(tài)、礦物學(xué)和成分分析
?對(duì)金屬、斷裂和非金屬夾雜物的結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像和分析
?微粉化和造粒過程中原料化學(xué)成分和活性成份的形態(tài)和成分分析
?材料科學(xué)研究
?用于研究導(dǎo)電和不導(dǎo)電材料樣品的特征
顯微鏡中心或工業(yè)質(zhì)量力求實(shí)驗(yàn)室的多功能解決方案
不同的真空室大小和可滿足所有應(yīng)用要求的載物臺(tái)選項(xiàng)-甚至是大型工業(yè)零部件樣品
使用LaB6燈絲，能夠得到更優(yōu)的圖像質(zhì)量
對(duì)不導(dǎo)電和無導(dǎo)電涂層的樣品的成像和分析性能出色
可以配置多種分析探測(cè)器用于滿足各種顯微分析應(yīng)用的需求
蔡司掃描電子顯微鏡EVO系列SEM特點(diǎn)：
?便捷的可用性
SmartSEM Touch可以通過使用您的指尖與其進(jìn)行交互式工作流程控制。它簡(jiǎn)單易學(xué)， 大大減少了培訓(xùn)所付出的努力和成本，甚至新用戶在幾分鐘內(nèi)也能夠捕捉令人驚嘆的圖像。此用戶界面還支持需要自動(dòng)化工作流程以執(zhí)行可重復(fù)檢查任務(wù)的工業(yè)操作員。
?優(yōu)的圖像質(zhì)量
EVO 擅長(zhǎng)于對(duì)未經(jīng)處理和沒有導(dǎo)電涂層的樣品獲取的數(shù)據(jù)。EVO 還允許樣品保留其原始狀態(tài)， 維持含水和重污染樣品的數(shù)據(jù)質(zhì)量。此外當(dāng)成像和微量分析面臨挑戰(zhàn)時(shí)，選用LaB6燈絲則能夠給予更好的分辨率、 對(duì)比度和信噪比。
?EVO 能夠與其它設(shè)備相關(guān)聯(lián)
EVO可以作為半自動(dòng)、多模式工作流程的一部分，通過重新定位感興趣區(qū)域，并以多種方式收集數(shù)據(jù)，形成信息的完整性。將光學(xué)和電子顯微鏡圖像合并起來進(jìn)行材料表征或零件檢驗(yàn)，或者將 EVO 與蔡司光學(xué)顯微鏡相關(guān)聯(lián)，進(jìn)行關(guān)聯(lián)顆粒度分析。
蔡司掃描電子顯微鏡EVO系列SEM應(yīng)用示例：
?電子行業(yè)：
?目視檢查電子元件、集成電路、MEMS 器件和太陽能電池
?銅絲表面及晶體結(jié)構(gòu)的研究
?金屬腐蝕研究
?斷面失效分析
?Wire bonding線腳檢查
?電容表面成像
?金屬行業(yè)：
?對(duì)金屬樣品和夾雜物的結(jié)構(gòu)、化學(xué)和結(jié)晶學(xué)進(jìn)行成像和分析
?相、顆粒、焊縫和失效分析
?加工企業(yè)：
?質(zhì)量分析/質(zhì)量控制
?失效分析/金相分析
?清潔度檢查
?顆粒的形態(tài)和化學(xué)分析， 以滿足 ISO 16232 和 VDA 19 中1和2的標(biāo)準(zhǔn)
?非金屬夾雜物的分析
?原材料：
?地質(zhì)樣品的形態(tài)、礦物學(xué)和成分分析
?對(duì)金屬、斷裂和非金屬夾雜物的結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像和分析
?微粉化和造粒過程中原料化學(xué)成分和活性成份的形態(tài)和成分分析
?材料科學(xué)研究
?用于研究導(dǎo)電和不導(dǎo)電材料樣品的特征
